DC darbinės įtampos matavimo multimetru metodas
Tai yra nuolatinės srovės maitinimo įtampos ir išorinių komponentų darbinės įtampos matavimo metodas, naudojant multimetro nuolatinės srovės įtampos diapazoną, kai maitinimas įjungtas. Nustačius kiekvieno IC kaiščio į žemę nuolatinės srovės įtampos vertę ir palyginus ją su normalia verte, galima susiaurinti gedimų diapazoną ir rasti pažeistą komponentą. Matuojant reikia atkreipti dėmesį į šiuos aštuonis taškus:
(1) Multimetro vidinė varža turi būti pakankamai didelė, bent 10 kartų didesnė už bandomosios grandinės varžą, kad būtų išvengta didelių matavimo klaidų.
(2) Paprastai kiekvieną potenciometrą pasukite į vidurinę padėtį. Jei tai televizorius, kaip signalo šaltinis turėtų būti naudojamas standartinis spalvų juostos signalo generatorius.
(3) Bandymo laidams ar zondams reikia imtis neslydimo -priemonių. Kadangi bet koks trumpasis jungimas gali sugadinti IC. Norint išvengti bandymo laidų slydimo, galima taikyti šį metodą: Paimkite dviračio vožtuvo šerdies dalį ir uždėkite ją ant bandymo laido galo, kad jis išsikištų maždaug 0,5 mm iš bandymo laido galo. Tai gali ne tik užtikrinti gerą kontaktą tarp bandymo laido galo ir bandymo taško, bet ir veiksmingai užkirsti kelią slydimui. Net jei jis palies gretimą tašką, jis nesukels trumpojo jungimo.
(4) Kai tam tikro kaiščio įtampa neatitinka normalios vertės, IC kokybė turėtų būti vertinama analizuojant kaiščio įtampos įtaką normaliam IC veikimui ir atitinkamus kitų kontaktų įtampų pokyčius.
(5) IC kaiščių įtampai turės įtakos periferiniai komponentai. Kai periferiniuose komponentuose atsiranda nuotėkis, trumpasis jungimas, atvira grandinė arba vertės pasikeitimas arba periferinė grandinė yra prijungta prie kintamos varžos potenciometro, kaiščių įtampa pasikeis priklausomai nuo potenciometro slankiosios svirties padėties.
(6) Jei visų IC kontaktų įtampa yra normali, IC paprastai laikoma normalia. Jei kai kurių IC kaiščių įtampa yra nenormali, patikrinimas turėtų prasidėti nuo kaiščio, kurio nuokrypis nuo normaliosios vertės yra didžiausias, siekiant patikrinti, ar periferiniuose komponentuose nėra gedimų. Jei gedimo nėra, tikėtina, kad IC bus pažeista.
(7) Dinaminiams priėmimo įrenginiams, pvz., televizoriams, kiekvieno IC kaiščio įtampa skiriasi, kai yra arba nėra signalo. Nustačius, kad kaiščio įtampa, kuri neturėtų keistis, labai kinta, o kaiščio įtampa, kuri turėtų keistis pagal signalo dydį ir reguliuojamo komponento padėtį, nesikeičia, galima nustatyti, kad IC yra pažeista.
(8) Įrenginiams su keliais darbo režimais, pvz., vaizdo registratoriams, kiekvieno IC kaiščio įtampa taip pat skiriasi skirtingais darbo režimais.
