Stereomikroskopo padidinimo stebėjimas
Kaip prisitaikyti prie skirtingų reikalavimų stebint stereoskopinio mikroskopo didinimą
Kūno mikroskopas naudojamas trimatėms elektroninių komponentų, integrinių grandynų plokščių, rotacinių pjovimo įrankių, magnetų ir kt. apžiūrai ir stebėjimui. Kaip prisitaikyti prie šių skirtingų reikalavimų, atsižvelgiant į poreikį stebėti objektus skirtingais kartotiniais? Ją galima išspręsti keliais aspektais. a. Tai galima pasiekti naudojant optinį efektyvumą. b. Jį galima pasirinkti vaizdo stebėjimui. c. Tai galima pasiekti naudojant mechanines savybes. d. Jis gali būti apšviestas per šviesos šaltinį
Optinis veikimas: atsižvelgiant į matuojamo objekto stebėjimo reikalavimus, parenkami skirtingi okuliarai / objektai, kad būtų išspręstos tokios problemos kaip didelis padidinimas ir didelis matymo laukas. Kai reikalingas tik didelis padidinimas, galima pakeisti didelio padidinimo okuliarą ir objektyvą. Kai reikalingas didelis matymo laukas, objektyvo lęšį galima pakeisti arba sumažinti, kad jis atitiktų reikalavimus.
Vaizdo stebėjimas: kai optinio padidinimo nepakanka, kompensuoti galima naudoti elektroninį padidinimą. Stebėdami vienu metu ir tikėdamiesi saugoti ir išlaikyti, galime pasirinkti vaizdo įrašus. Yra įvairių vaizdo būdų: A. Jį galima tiesiogiai prijungti prie monitoriaus B. Galima prijungti prie kompiuterio (per skaitmeninę CCD arba analoginę CCD vaizdo gavimo kortelę) C. Galima prijungti prie skaitmeninio fotoaparato (skirtingo skaitmeninio fotoaparatai turėtų atsižvelgti į skirtingas sąsajas ir suderinamumą su mikroskopu)
Mechaninis veikimas: kai susiduriame su suvirinimu, surinkimu, didelių integrinių grandynų plokščių tikrinimu ir darbo atstumo reikalavimais, šias problemas galime išspręsti pasitelkę mechanines savybes, pvz., universalias atramas, svirties atramas, dideles mobilias platformas ir kt. charakteristikas, mūsų aptikimo darbas gali būti atliktas tiesiogiai per skliaustus ir platformas, kai aptinkami dideli objektai. Nereikia perkelti mūsų išmatuoto objekto. Pavyzdžiui, „ABB Company“ susiduria su sunkumais perkelti plokštę dėl jos didelio dydžio ir subtilaus posvyrio stebėjimo, todėl bandymo darbus gali atlikti tik mechaniniu judesiu. Universalios atramos funkcija vienu metu gali atitikti šiuos naudojimo reikalavimus.
Šviesos šaltinio apšvietimas: šviesos šaltinio apšvietimas turi lemiamą reikšmę nustatant, ar bandomas objektas gali būti aiškiai matomas. Renkantis apšvietimą, reikia parinkti atitinkamas apšvietimo priemones ir apšvietimo būdus pagal bandomojo objekto charakteristikas (atsižvelgiant į jo reikalavimus šviesai, pvz., stiprus/silpnas/atspindintis).
