Įvadas į skenuojančio zondo mikroskopo funkcijas
Nuskaitymo zondo mikroskopas (Scanning Probe Microscope, SPM) yra skenuojantis tunelinis mikroskopas ir skenuojantis tunelinis mikroskopas, pagrįstas įvairių naujų zondo mikroskopų kūrimu (atominės jėgos mikroskopas AFM, lazerinis jėgos mikroskopas LFM, magnetinės jėgos mikroskopas MFM ir ir taip toliau) bendrai, ar pastaraisiais metais tarptautinis analitinių prietaisų paviršiaus vystymasis, yra visapusiškas optoelektronikos technologijų, lazerinių technologijų, silpno signalo aptikimo technologijos, tikslaus mechaninio projektavimo ir apdorojimo, automatinio valdymo technologijos, skaitmeninių signalų apdorojimo technologijų naudojimas. , taikomą optinę technologiją, kompiuterinį didelės spartos gavimo ir valdymo bei didelės raiškos grafinio apdorojimo technologiją ir kitus šiuolaikinius mokslo ir technologijų pasiekimus, susijusius su aukštųjų technologijų gaminių optine, mechanine ir elektrine integracija. Šis naujo tipo mikroskopinis įrankis turi akivaizdžių pranašumų, palyginti su įvairiais mikroskopais ir analitiniais instrumentais praeityje:
1, SPM turi labai didelę skiriamąją gebą. Jis gali lengvai „pamatyti“ atomą, kurį sunku pasiekti bendruoju mikroskopu ir net elektroniniu mikroskopu.
2, SPM yra realaus laiko, realaus pavyzdžio paviršiaus didelės raiškos vaizdas, iš tikrųjų matosi atomas. Skirtingai nuo kai kurių analitinių instrumentų, mėginio paviršiaus struktūra nustatoma netiesioginiais arba skaičiavimo metodais.
3, SPM naudojamas ramioje aplinkoje. Elektroninis mikroskopas ir kiti instrumentai, atitinkantys reiklesnių darbo aplinkos reikalavimus, mėginys turi būti patalpintas aukšto vakuumo sąlygomis, kad būtų galima išbandyti. SPM gali veikti ne tik vakuume, bet ir atmosferoje, žemoje temperatūroje, kambario temperatūroje, aukštoje temperatūroje ir net tirpale. Todėl SPM tinka moksliniams eksperimentams įvairiose darbo aplinkose.
