Įvadas į multimetro aptikimo metodus
1. Nuolatinės srovės varžos nustatymo metodas grandinėje
Tai būdas naudoti multimetro omų bloką, kad būtų galima tiesiogiai išmatuoti kiekvieno IC ir periferinių plokštės komponentų priekinės ir atvirkštinės nuolatinės srovės varžos vertes ir lyginant ją su įprastais duomenimis, kad būtų galima rasti ir nustatyti gedimą. Matuodami atkreipkite dėmesį į šiuos tris dalykus:
(1) Prieš matuodami atjunkite maitinimą, kad nepažeistumėte skaitiklio ir komponentų bandymo metu.
(2) Multimetro elektros barjero vidinė įtampa neturi būti didesnė nei 6 V. Matavimo diapazonui geriausia naudoti R×100 arba R×1k diapazoną.
(3) Matuodami IC kaiščio parametrus, atkreipkite dėmesį į matavimo sąlygas, tokias kaip bandomas modelis, potenciometro slankiosios peties, susijusios su IC, padėtis ir kt., Taip pat atsižvelkite į periferinės grandinės komponentų kokybę. .
2. DC darbinės įtampos matavimo metodas
Tai nuolatinės srovės maitinimo įtampos ir periferinių komponentų darbinės įtampos matavimo būdas su multimetru nuolatinės srovės įtampos bloku, kai įjungtas maitinimas; aptikti kiekvieno IC kaiščio ir įžeminimo nuolatinės srovės įtampos vertę ir palyginti ją su normalia verte, taip sumažinant gedimo diapazoną. Raskite sugadintą komponentą. Matuodami atkreipkite dėmesį į šiuos aštuonis punktus:
(1) Multimetro vidinė varža turi būti pakankamai didelė, bent 10 kartų didesnė už matuojamos grandinės varžą, kad būtų išvengta didelių matavimo klaidų.
2) Paprastai kiekvieną potenciometrą pasukite į vidurinę padėtį. Jei tai televizorius, signalo šaltinis turėtų naudoti standartinį spalvų juostos signalo generatorių.
(3) Bandymo laidams arba zondams turėtų būti imtasi neslidumo priemonių. Bet koks momentinis trumpasis jungimas gali lengvai sugadinti IC. Norint išvengti bandymo rašiklio slydimo, galima naudoti šį metodą: paimkite dviračio vožtuvo šerdies gabalėlį ir uždėkite jį ant bandymo rašiklio antgalio ir pailginkite tyrimo rašiklio galiuką maždaug 0,5 mm. Tai gali ne tik užtikrinti, kad bandymo rašiklio galiukas gerai liestųsi su išbandytu tašku, bet ir veiksmingai apsaugo nuo paslydimo. , nebus trumpojo jungimo, net jei jis pataikys į gretimus taškus.
(4) Kai išmatuota tam tikro kaiščio įtampa neatitinka normalios vertės, IC kokybė turėtų būti vertinama analizuojant, ar kaiščio įtampa turi kokį nors svarbų poveikį normaliam IC veikimui ir atitinkamiems įtampos pokyčiams. kitų kaiščių.
(5) IC kaiščio įtampai turės įtakos periferiniai komponentai. Kai periferiniai komponentai nuteka, trumpas jungimas, atvira grandinė arba keičiasi vertė, arba periferinė grandinė yra prijungta prie kintamos varžos potenciometro, kaiščio įtampa pasikeis dėl skirtingų potenciometro slankiojančios svirties padėčių.
(6) Jei kiekvieno IC kaiščio įtampa yra normali, IC paprastai laikoma normalia; jei kai kurių IC kontaktų įtampa yra nenormali, reikėtų pradėti nuo taško, kuris labiausiai nukrypsta nuo normalios vertės, ir patikrinti, ar nepažeisti periferiniai komponentai. Jei gedimo nėra, tikėtina, kad IC bus pažeista. .
(7) Dinaminiams priėmimo įrenginiams, pvz., televizoriams, kiekvieno IC kaiščio įtampa skiriasi, kai signalas yra ar ne. Nustačius, kad kaiščio įtampa turėtų ne kisti, o labai pasikeisti, o kaiščio įtampa, kuri turėtų keistis priklausomai nuo signalo dydžio ir reguliuojamo komponento padėties, nesikeičia, galima nustatyti, kad IC pažeista.
(8) Įrenginiams su keliais darbo režimais, pavyzdžiui, vaizdo registratoriams, kiekvieno IC kaiščio įtampa taip pat skiriasi skirtingais darbo režimais.
3. Kintamosios srovės darbinės įtampos matavimo metodas
Norėdami suvokti IC kintamosios srovės signalo pokyčius, galite naudoti multimetrą su dB lizdu, kad apytiksliai išmatuotų IC kintamosios srovės įtampą. Bandydami nustatykite multimetrą į kintamosios srovės įtampą ir įkiškite teigiamą testo laidą į dB lizdą; multimetrui be dB lizdo {{0}}.1–0,5 μF nuolatinės srovės blokavimo kondensatorius turi būti nuosekliai prijungtas prie teigiamo bandymo laido. Šis metodas tinka santykinai žemo veikimo dažnio IC, pvz., TV vaizdo stiprinimo pakopos ir lauko skenavimo grandinės. Kadangi šios grandinės turi skirtingus natūralius dažnius ir skirtingas bangų formas, išmatuoti duomenys yra apytiksliai ir gali būti naudojami tik kaip nuoroda.
4. suminės srovės matavimo metodas
Šis metodas yra metodas, leidžiantis įvertinti IC kokybę, nustatant bendrą IC maitinimo linijos srovę. Kadangi dauguma vidinių IC dalių yra tiesiogiai sujungtos, kai IC yra pažeistas (pvz., gedimas arba tam tikros PN sankryžos atvira grandinė), tai sukels sodrumą ir vėlesnio etapo atjungimą, dėl kurio pasikeis bendra srovė. . Todėl apie IC kokybę galima spręsti išmatuojant bendrą srovę. Taip pat galite išmatuoti įtampos kritimą per rezistorių galios kelyje ir pagal Ohmo dėsnį apskaičiuoti bendrą srovės vertę.
