Kaip stereomikroskopo stebėjimo padidinimas atitinka skirtingus reikalavimus?
Stereo mikroskopai naudojami trimačiai elektroninių dalių, integrinių grandynų plokščių, rotacinių įrankių, magnetų ir tt apžiūrai ir stebėjimui. Atsižvelgiant į tai, kad šiuos skirtingus matuojamus objektus reikia stebėti skirtingais didinimais, kaip prisitaikyti prie šių skirtingų reikalavimų. ? Ją galima išspręsti daugeliu aspektų: a. Tai galima išspręsti naudojant optines savybes; b. Galima pasirinkti vaizdo stebėjimą; c. Tai galima išspręsti naudojant mechanines savybes; d. Jis gali būti apšviestas šviesos šaltiniu.
Optinis veikimas: atsižvelgiant į matuojamo objekto stebėjimo reikalavimus, tokias problemas kaip didelis padidinimas ir didelis regėjimo laukas galima išspręsti pasirinkus skirtingus okuliarus/objektus. Kai reikalingas tik didelis padidinimas, galite pakeisti didelio padidinimo okuliarą ir objektyvą. Kai jums reikia plataus matymo lauko, galite patenkinti reikalavimą pakeisdami objektyvo lęšį, sumažindami okuliaro dydį arba pakeisdami į plataus matymo lauko okuliarą.
Vaizdo stebėjimas: kai optinio padidinimo nepakanka, kompensuoti galima naudoti elektroninį padidinimą. Stebėdami tuo pačiu metu ir norėdami turėti galimybę saugoti ir išlaikyti, galime pasirinkti vaizdo įrašą. Yra daug vaizdo metodų: A. Jis gali būti tiesiogiai per monitorių. B. Jį galima prijungti prie kompiuterio (per skaitmeninę CCD arba analoginę CCD vaizdo fiksavimo kortelę). C. Jį galima prijungti prie skaitmeninio fotoaparato (skirtingi skaitmeniniai fotoaparatai turėtų atsižvelgti į skirtingas sąsajas ir suderinamumą su mikroskopu.)
Mechaninės savybės: susidūrę su kai kuriomis suvirinimo, surinkimo, didelių integrinių grandynų plokštės tikrinimo ir darbo atstumo sritimis, problemą galime išspręsti pasitelkę mechanines savybes, pvz., universalius laikiklius, svirties laikiklius, dideles mobilias platformas ir kt. Dėl jų veikimo charakteristikų , aptikus didelius objektus, mūsų apžiūros darbus galima atlikti tiesiogiai per laikiklį ir platformą. Nereikia perkelti mūsų išmatuoto objekto. Pavyzdžiui: Įmonė A, kadangi tikrintina plokštė yra gana didelė ir reikalauja subtilaus posvyrio stebėjimo, plokštę sunku perkelti, o tikrinimo darbus galima atlikti tik mechaniniu judesiu. Universalaus laikiklio naudojimas gali atitikti šiuos naudojimo reikalavimus tuo pačiu metu.
Šviesos šaltinio apšvietimas: Šviesos šaltinio apšvietimas vaidina labai svarbų vaidmenį nustatant, ar matuojamas objektas gali būti aiškiai matomas. Renkantis apšvietimą, reikia atsižvelgti į matuojamo objekto charakteristikas (reikia atsižvelgti į jo šviesos reikalavimus, stiprų\silpną\atspindintį ir pan.) ) parinkti atitinkamas apšvietimo priemones ir apšvietimo būdus. Jei perdavimas ir įstrižas apšvietimas, gaunamas su bendraisiais stereomikroskopais, negali patenkinti jūsų apšvietimo poreikių, mes taip pat paruošėme jums LED šaltos šviesos šaltinio lempas, apskritus šviestuvus, vieno / dvigubo pluošto šalto šviesos šaltinio lempas ir kt.
