Vertikalių metalografinių mikroskopų ir apverstų metalografinių mikroskopų pritaikymo skirtumai
Skirtumas tarp vertikalaus ir apversto yra tiesiog tas, kad vertikalus mėginys dedamas žemiau, o apverstas – aukščiau. Vertikalus objektyvo lęšis yra nukreiptas žemyn, o apverstas objektyvas nukreiptas į viršų.
Apverstasis metalografinis mikroskopas dažniausiai naudojamas gamyklų laboratorijose, mokslinių tyrimų institucijose ir universitetuose, nes mėginio stebėjimo paviršius sutampa su darbo stalo paviršiumi, o stebėjimo objektyvas yra po stalviršiu, stebint aukštyn. Šios stebėjimo formos neriboja mėginio aukštis, o ruošiant mėginį yra plokščias tik vienas stebėjimo paviršius. Apverstas metalografinio mikroskopo pagrindas turi didelį atramos plotą, žemą svorio centrą, yra stabilus ir patikimas. Okuliaras ir atraminis paviršius pakreipti 45 laipsnių kampu, kad būtų patogu stebėti.
Vertikalus metalografinis mikroskopas turi tas pačias pagrindines funkcijas kaip ir apverstas metalografinis mikroskopas. Be 20-30 mm aukščio metalo mėginių analizės ir identifikavimo, jis plačiau naudojamas skaidrioms, pusiau skaidrioms ar nepermatomoms medžiagoms, nes atitinka žmogaus kasdienius įpročius. Vertikalus metalografinis mikroskopas stebėjimo metu sukuria teigiamą vaizdą, o tai labai palengvina vartotojo stebėjimą ir atpažinimą. Be 20–30 mm aukščio metalo mėginių analizės ir identifikavimo, stebint didesnius nei 3 mikronų ir mažesnius nei 20 mikronų taikinius, tokius kaip metalo keramika, elektroninės lustos, spausdintinės grandinės, LCD substratai, plėvelės, pluoštai, granuliuoti objektai, dangos ir kitos medžiagos, galima pasiekti gerą vaizdinį jų paviršiaus struktūros ir pėdsakų poveikį.
