Metalografinių mikroskopų taikymas įvairiuose pramonės sektoriuose
Metalografiniai mikroskopai pirmiausia buvo gauti iš metalografijos. Jų pagrindinis tikslas yra stebėti metalografines struktūras, todėl jie yra specializuoti instrumentai, skirti tik nepermatomų objektų, tokių kaip metalai ir mineralai, metalografinėms struktūroms tirti. Šių nepermatomų objektų negalima stebėti naudojant įprastus šviesos mikroskopus; todėl pagrindinis skirtumas tarp metalografinių mikroskopų ir įprastų mikroskopų yra tas, kad pirmasis apšvietimui naudoja atspindėtą šviesą, o antrasis - skleidžiamą šviesą.
Metalografiniai mikroskopai pasižymi puikiu stabilumu, aiškiu vaizdu, didele raiška ir dideliu, plokščiu matymo lauku. Be mikroskopinio stebėjimo per okuliarą, jie taip pat gali rodyti realiu laiku{1}}dinaminius vaizdus kompiuterio (arba skaitmeninio fotoaparato) ekranuose. Reikiamus vaizdus galima redaguoti, išsaugoti ir spausdinti naudojant pagrindines programas tokiose srityse kaip techninė įranga, metalografinės sekcijos, IC komponentai ir LCD/LED gamyba.
Metalografiniai mikroskopai aprūpinti penkių tipų objektyvais: EPI Brightfield Fluorescence, BD Brightfield/Darkfield, SLWD (Super Long Working Distance), ELWD (Enhanced Long Working Distance) ir su korekciniu apykakle. Aparatūros pramonėje aparatūros dalims, turinčioms stiprų atspindį, stebėjimui galima pasirinkti BD Brightfield/Darkfield objektyvus. Pavyzdžiui, skystųjų kristalų pramonėje, stebint ir matuojant laidžiąsias daleles, metalografiniuose mikroskopuose gali būti įrengtas DIC (diferencialinis trukdžių kontrastas), kad būtų galima gauti daugiau trijų{2}}vaizdų. DIC naudoja poliarizavimo technologiją{4}}suporuoti poliarizuojantys filtrai sudaro poliarizuotą mikroskopinę stebėjimo sistemą. Remiantis dvipusiomis objektų savybėmis, jis kryptingai keičia optinį kelią. Tačiau poliarizacija prasminga tik tada, kai naudojama kartu su DIC; vien tik jis neturi praktinio tikslo. Kai metalografiniai mikroskopai naudojami mikro-dydžio objektams, pvz., IC komponentams ir metalografinėms sekcijoms, matuoti ir analizuoti, galima naudoti išmaniąją programinę įrangą Iview-DIMS.
Ši programinė įranga siūlo didelį tikslumą, efektyviai sumažindama žmogaus matavimo klaidas. Jį lengva išmokti ir naudoti, todėl galima tiksliai išmatuoti ir analizuoti atitinkamus matmenis, tokius kaip taškai, linijos, lankai, spinduliai, skersmenys ir kampai. Ji taip pat palaiko lengvą matavimo vaizdų fiksavimą ir įvairių bandymų ataskaitų pritaikymą.
