Koks yra būdas naudoti multimetrą kaip testavimo įrankį integriniams grandynams tikrinti?
Integrinį grandyną lengva pakeisti, tačiau jį sunku išardyti. Prieš išmontuojant būtina tiksliai įvertinti, ar integrinis grandynas tikrai pažeistas, ir pažeidimo laipsnį, kad būtų išvengta aklino išmontavimo. Nuolatinės srovės varžos, įtampos, kintamosios srovės įtampos ir bendros srovės matavimas yra keturi integrinių grandynų internetinio aptikimo su multimetru metodai.
(1) Aptikimas neprisijungus:
Šis metodas atliekamas, kai IC nėra suvirintas į grandinę. Paprastai multimetras gali būti naudojamas išmatuoti priekinės ir atvirkštinės varžos vertes tarp kiekvieno kaiščio, atitinkančio įžeminimo kaištį, ir palyginti jį su nepažeista IC.
(2) Internetinis aptikimas:
Tai aptikimo metodas, leidžiantis aptikti kiekvieno IC kaiščio nuolatinės srovės varžą tinkle (IC grandinėje), kintamosios ir nuolatinės srovės įtampą į žemę ir bendrą veikimo srovę per multimetrą. Šis metodas pašalina IC pakeitimo apribojimus ir IC išmontavimo problemas taikant pakeitimo bandymo metodą ir yra dažniausiai naudojamas ir praktiškas IC aptikimo metodas.
①Online nuolatinės srovės varžos aptikimo metodas: tai būdas tiesiogiai išmatuoti IC kaiščių ir periferinių komponentų tiesioginės ir atvirkštinės nuolatinės srovės varžos vertes ant plokštės su multimetro omų bloku ir palyginti jį su įprastais duomenimis, kad būtų galima rasti ir nustatyti. gedimų. Matuodami atkreipkite dėmesį į šiuos tris dalykus:
a. Prieš matavimą atjunkite maitinimą, kad nepažeistumėte ampermetro ir komponentų bandymo metu.
b. Multimetro elektrinio barjero vidinė įtampa turi būti ne didesnė kaip 6 V, o matavimo diapazonas pageidautina R×100 arba R×1 K.
c. Matuodami IC kaiščio parametrus, atkreipkite dėmesį į matavimo sąlygas, tokias kaip bandomas modelis, potenciometro slydimo svirties padėtis, susijusi su IC, ir tt, taip pat atsižvelkite į periferinės grandinės komponentų kokybę.
②Nuolatinės srovės darbinės įtampos matavimo metodas: tai nuolatinės srovės maitinimo įtampos ir išorinių komponentų darbinės įtampos matavimo metodas su multimetro nuolatinės srovės įtampos bloku, kai įjungtas maitinimas; nustatyti kiekvieno IC kaiščio ir žemės nuolatinės srovės įtampos vertę ir palyginti ją su įprasta įtampa. Vertės palyginamos, o tada gedimų diapazonas suglaudinamas, siekiant išsiaiškinti pažeistus komponentus. Matuodami atkreipkite dėmesį į šiuos aštuonis punktus:
a. Vidinė multimetro varža turi būti pakankamai didelė, bent 10 kartų didesnė už bandomosios grandinės varžą, kad nebūtų didelių matavimo klaidų.
b. Paprastai kiekvieną potenciometrą pasukite į vidurinę padėtį. Jei tai televizorius, signalo šaltinis turėtų būti standartinis spalvų juostos signalo generatorius.
c. Bandymo laidams ar zondams reikia imtis neslidumo priemonių. Bet koks trumpasis jungimas gali lengvai sugadinti IC. Norint išvengti bandymo rašiklio slydimo, galima taikyti šiuos metodus: paimkite dviračio vožtuvo šerdį ir uždėkite ją ant bandymo rašiklio antgalio ir pailginkite bandymo rašiklio galiuką maždaug 0,5 mm. Net jei jis atsitrenks į gretimą tašką, jis nebus trumpasis jungimas.
d. Kai išmatuota tam tikro kaiščio įtampa nesutampa su normaliąja verte, reikia analizuoti, ar kaiščio įtampa turi svarbios įtakos normaliam IC veikimui ir atitinkamiems kitų kontaktų įtampos pokyčiams, kad būtų įvertinti, ar IC yra geras ar blogas.
e. IC kaiščio įtampai turės įtakos periferiniai komponentai. Kai periferiniuose komponentuose įvyksta nuotėkis, trumpasis jungimas, atvira grandinė ar pasikeičia vertė arba periferinė grandinė yra prijungta prie kintamos varžos potenciometro, potenciometro slankiosios svirties padėtis skiriasi, todėl kaiščio įtampa pasikeis. .
f. Jei kiekvieno IC kaiščio įtampa yra normali, paprastai laikoma, kad IC yra normali; jei kai kurių IC kontaktų įtampa yra nenormali, pradėkite nuo taško, kur nuokrypis nuo normaliosios vertės yra didžiausias, ir patikrinkite, ar nėra kokių nors periferinių komponentų gedimų. Jei gedimo nėra, tikėtina, kad IC bus pažeista.
g. Dinaminiams priėmimo įrenginiams, pvz., televizoriams, kiekvieno IC kaiščio įtampa skiriasi, kai yra signalas, ar ne. Nustačius, kad kaiščio įtampa turėtų ne kisti, o labai pasikeisti, o kaiščio įtampa, kuri turėtų keistis priklausomai nuo signalo dydžio ir skirtingų reguliuojamų komponentų padėčių, galima nustatyti, kad IC pažeista.
h. Įrenginiams su keliais darbo režimais, pavyzdžiui, vaizdo registratoriams, kiekvieno IC kaiščio įtampa taip pat skiriasi skirtingais darbo režimais.
③ kintamosios srovės darbinės įtampos matavimo metodas: norint suvokti IC kintamosios srovės signalo pokytį, IC kintamosios srovės darbinei įtampai apytiksliai įvertinti galima naudoti multimetrą su dB lizdu. Bandydami įdėkite multimetrą į kintamosios srovės įtampos bloką ir įkiškite teigiamą testo laidą į dB lizdą; multimetrui be dB lizdo 0.1-0.5 μF DC blokuojantis kondensatorius turi būti nuosekliai sujungtas su teigiamu bandymo laidu. Šis metodas tinka santykinai žemo veikimo dažnio IC, pvz., televizorių vaizdo stiprintuvams, lauko skenavimo grandinėms ir kt. Kadangi šios grandinės turi skirtingus natūraliuosius dažnius ir bangų formas, išmatuoti duomenys yra apytiksliai ir gali būti naudojami tik kaip nuoroda.
④ Bendrosios srovės matavimo metodas: šis metodas yra būdas įvertinti, ar IC yra geras, ar blogas, nustatant bendrą IC maitinimo linijos srovę. Kadangi dauguma IC yra tiesiogiai sujungti, kai IC yra pažeistas (pvz., PN sankryžos gedimas arba atvira grandinė), dėl to vėlesnė pakopa bus prisotinta ir išjungta, o bendra srovė pasikeis. Todėl apie IC kokybę galima spręsti išmatuojant bendrą srovę. Jis taip pat gali būti naudojamas išmatuoti rezistoriaus įtampą galios kelyje ir pagal Ohmo dėsnį apskaičiuoti bendrą srovės vertę.
