Transmisijos elektronų mikroskopijos panaudojimas ir ypatumai Transmisinės elektroninės mikroskopijos naudojimas ir ypatybės
Transmisijos elektronų mikroskopas (TEM) yra didelės skiriamosios gebos mikroskopas, naudojamas vidinei mėginio struktūrai stebėti. Jis naudoja elektronų pluoštą, kad prasiskverbtų į mėginį ir suformuotų suprojektuotą vaizdą, kuris vėliau interpretuojamas ir analizuojamas, kad būtų atskleista mėginio mikrostruktūra.
1. Elektronų šaltinis
TEM naudoja elektronų pluoštą, o ne šviesos spindulį. „Jifeng Electronics MA Lab“ įrengtame perdavimo elektroniniame mikroskope Talos naudojamas itin didelio ryškumo elektronų pistoletas, o sferinės aberacijos perdavimo elektronų mikroskopas HF5000 – šalto lauko elektronų pistoletas.
2.Vakuuminė sistema
Siekiant išvengti elektronų pluošto sąveikos su dujomis prieš keliaujant per mėginį, visas mikroskopas turi būti palaikomas didelio vakuumo sąlygomis.
3. Perdavimo pavyzdys
Mėginys turi būti skaidrus, tai reiškia, kad elektronų spindulys gali prasiskverbti į jį, sąveikauti su juo ir sudaryti projektuojamą vaizdą. Paprastai mėginio storis svyruoja nuo nanometrų iki submikronų. Quarterly yra aprūpinta daugybe Helios 5 serijos FIB, skirtų aukštos kokybės itin ploniems TEM mėginiams paruošti.
4. Elektronų perdavimo sistema
Elektronų pluoštas sufokusuojamas per perdavimo sistemą. Šie lęšiai yra panašūs į naudojamus optiniuose mikroskopuose, tačiau kadangi elektronų bangų ilgiai yra daug trumpesni nei šviesos bangos, lęšių konstrukcija ir gamyba reikalauja daug pastangų.
5. Vaizdo plokštuma
Praėjęs pro mėginį, elektronų pluoštas patenka į vaizdo plokštumą. Šioje plokštumoje elektronų pluošto informacija paverčiama vaizdu ir užfiksuojama detektoriumi.
6. Detektorius
Labiausiai paplitę detektoriai yra fosforo ekranai, CCD (Charge Coupled Device) kameros arba CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor) kameros. Kai elektronų pluoštas sąveikauja su fosforo ekranu vaizdo plokštumoje, susidaro matoma šviesa, todėl gaunamas projektuojamas mėginio vaizdas, kuris dažnai naudojamas mėginiui rasti. Kadangi fosforo ekraną reikia naudoti tamsioje patalpoje, o tai nėra patogu vartotojui, gamintojai šiais laikais fosforinio ekrano šone įrengia kamerą, kad TEM operatorius galėtų stebėti monitorių atviroje aplinkoje ir rasti pavyzdžius. , pakreipkite juostos ašį ir atlikdami kitas operacijas, šis nepastebimas patobulinimas yra žmogaus ir mašinos atskyrimo realizavimo pagrindas.
7. Vaizdo formavimas
Kai elektronų pluoštas praeina pro mėginį, jis sąveikauja su mėginio atominėmis ir kristalinėmis struktūromis, išsklaidydamas ir sugerdamas. Remiantis šiomis sąveikomis, elektronų pluošto intensyvumas sudarys vaizdus vaizdo plokštumoje. Šie vaizdai yra dvimačiai suprojektuoti vaizdai, tačiau vidinė mėginio struktūra dažnai yra trimatė, todėl sprendžiant informaciją apie vidines imties detales, į tai reikėtų atkreipti ypatingą dėmesį.
8. Analizė ir aiškinimas
Stebėdami ir analizuodami vaizdus, mokslininkai gali suprasti kristalų struktūrą, gardelės parametrus, kristalų defektus, atomų išsidėstymą ir kitą mėginio mikrostruktūrinę informaciją. Jifeng turi profesionalią medžiagų analizės komandą, kuri gali pateikti klientams viso proceso analizės sprendimus ir profesionalias medžiagų analizės ataskaitas.
