"Integrinių grandynų bandymo metodas, naudojant tik multimetrą kaip bandymo įrankį
Nors integrinių grandynų keitimas yra geras, išardyti visgi sunkiau. Todėl prieš išmontuojant būtina tiksliai įvertinti, ar integrinis grandynas tikrai pažeistas, ir pažeidimo laipsnį, taip pat vengti aklino išmontavimo. Šiame straipsnyje pristatomi integrinių grandynų išjungimo iš grandinės ir grandinės aptikimo metodai ir atsargumo priemonės, naudojant tik multimetrą kaip aptikimo įrankį. Keturi šiame darbe aprašyti aptikimo kelyje metodai (nuolatinės srovės varžos, įtampos, kintamosios srovės įtampos ir bendros srovės matavimas) yra praktiški ir dažniausiai naudojami mėgėjų techninės priežiūros aptikimo metodai. Čia taip pat tikiuosi, kad galite suteikti kitos praktinės (integrinių grandynų ir komponentų) diskriminacijos testavimo patirties.
(1) Aptikimas bekelėje
Šis metodas atliekamas, kai IC nėra lituojamas į grandinę. Paprastai multimetras gali būti naudojamas išmatuoti priekinės ir atvirkštinės varžos vertes tarp kaiščių, atitinkančių įžeminimo kaiščius, ir palyginti su nepažeista IC.
(2) Aptikimas kelyje
Tai aptikimo metodas, leidžiantis multimetru aptikti nuolatinės srovės varžą, kintamosios srovės ir nuolatinės srovės įtampą į žemę ir bendrą kiekvieno grandinės IC kaiščio darbinę srovę (IC grandinėje). Šiuo metodu įveikiamas pakaitinio bandymo metodo, kuriam reikalingas keičiamas IC, apribojimas ir IC išmontavimo problema, ir tai yra labiausiai paplitęs ir praktiškiausias IC bandymo metodas.
1. Įjungtos nuolatinės srovės varžos nustatymo metodas
Tai būdas naudoti multimetro omometrą, norint išmatuoti tiesioginės plokštės IC kontaktų ir periferinių komponentų tiesioginės ir atvirkštinės nuolatinės srovės varžos vertes ir palyginti jas su įprastais duomenimis, kad būtų galima rasti ir nustatyti gedimus. Matuodami atkreipkite dėmesį į šiuos tris dalykus:
(1) Prieš matavimą atjunkite maitinimą, kad bandymo metu nepažeistumėte skaitiklio ir komponentų.
(2) Multimetro elektrinio barjero vidinė įtampa turi būti ne didesnė kaip 6 V, o diapazonas, pageidautina, yra R × 100 arba R × 1k.
(3) Matuodami IC kaiščio parametrus, atkreipkite dėmesį į matavimo sąlygas, tokias kaip bandomas modelis, potenciometro slydimo svirties padėtis, susijusi su IC, ir kt., Taip pat atsižvelkite į periferinės grandinės komponentų kokybę. .
2. DC darbinės įtampos matavimo metodas
Tai nuolatinės srovės maitinimo įtampos ir periferinių komponentų darbinės įtampos matavimo būdas su multimetro nuolatinės srovės įtampos bloku, kai įjungtas maitinimas; aptikti kiekvieno IC kaiščio į žemę nuolatinės srovės įtampos vertę ir palyginti ją su normaliąja verte, taip sumažinant gedimo diapazoną. Raskite pažeistus komponentus. Matuodami atkreipkite dėmesį į šiuos aštuonis punktus:
(1) Multimetro vidinė varža turi būti pakankamai didelė, bent 10 kartų didesnė už bandomosios grandinės varžą, kad būtų išvengta didelių matavimo klaidų.
(2) Paprastai kiekvienas potenciometras pasukamas į vidurinę padėtį. Jei tai televizorius, signalo šaltinis turėtų naudoti standartinį spalvų juostos signalo generatorių.
(3) Bandymo rašikliui arba zondui reikia imtis neslystančių priemonių. IC lengvai pažeidžiamas dėl bet kokio trumpojo jungimo. Norėdami išvengti bandymo rašiklio slydimo, galite naudoti šiuos metodus: paimkite dviračio vožtuvo šerdies gabalėlį ir uždėkite jį ant bandymo rašiklio antgalio ir padidinkite tyrimo rašiklio galiuką maždaug 0,5 mm. , jis nesudarys trumpojo jungimo, net jei atsitrenks į gretimą tašką.
(4) Kai išmatuota tam tikro kaiščio įtampa neatitinka normalios vertės, IC kokybė turėtų būti vertinama tik analizuojant, ar kaiščio įtampa turi svarbios įtakos normaliam IC veikimui ir atitinkamiems pokyčiams. kitų kaiščių įtampų.
(5) IC kaiščio įtampai turės įtakos periferiniai komponentai. Kai yra nuotėkis, trumpasis jungimas, atvira grandinė arba periferinių komponentų vertės pasikeitimas, arba periferinė grandinė yra prijungta prie kintamos varžos potenciometro, potenciometro slankiojančios svirties padėtis skirsis, dėl to pasikeis kaiščio įtampa.
(6) Jei kiekvieno IC kaiščio įtampa yra normali, paprastai laikoma, kad IC yra normali; Jei kai kurių IC kaiščių įtampa yra nenormali, turėtumėte pradėti nuo didžiausio nuokrypio nuo normaliosios vertės, kad patikrintumėte, ar periferiniai komponentai yra sugedę. Jei gedimo nėra, tikėtina, kad IC bus pažeista. .
(7) Dinaminiam priėmimo įrenginiui, pavyzdžiui, televizoriui, kiekvieno IC kaiščio įtampa skiriasi, kai yra signalas, ar ne. Nustačius, kad kaiščio įtampa turėtų ne kisti, o labai pasikeisti, o įtampa, kuri kinta priklausomai nuo signalo dydžio ir skirtingų reguliuojamų komponentų padėčių, galima nustatyti, kad IC pažeista.
(8) Įrenginiams su keliais darbo režimais, pvz., vaizdo registratoriams, esant skirtingiems darbo režimams, kiekvieno IC kaiščio įtampa taip pat skiriasi.
3. Kintamosios srovės darbinės įtampos matavimo metodas
Norint suvokti IC kintamosios srovės signalo pokytį, galima apytiksliai išmatuoti IC kintamosios srovės įtampą su dB lizdu. Bandydami padėkite multimetrą ant kintamosios srovės įtampos bloko ir įkiškite teigiamą testo laidą į dB lizdą; multimetrui be dB lizdo 0.1-0.5 μF DC blokuojantis kondensatorius turi būti nuosekliai sujungtas su teigiamu bandymo laidu. Šis metodas tinka santykinai žemo veikimo dažnio IC, pvz., televizorių vaizdo stiprinimo pakopos, lauko skenavimo grandinės ir kt. Kadangi šių grandinių natūralūs dažniai ir bangų formos skiriasi, išmatuoti duomenys yra apytiksliai ir gali būti naudojami tik nuoroda.
4. visos srovės matavimas
Šis metodas yra būdas įvertinti, ar IC yra geras, ar blogas, nustatant bendrą IC maitinimo linijos srovę. Kadangi dauguma IC yra tiesiogiai sujungti, kai IC yra pažeistas (pvz., PN jungties gedimas arba atvira grandinė), pastarasis etapas bus prisotintas ir nutrauktas, o bendra srovė pasikeis. Todėl apie IC kokybę galima spręsti išmatuojant bendrą srovę. Taip pat galite išmatuoti įtampos kritimą tarp rezistorių galios kelyje ir pagal Ohmo dėsnį apskaičiuoti bendrą srovės vertę.
Pirmiau minėti aptikimo metodai turi savų privalumų ir trūkumų. Praktikoje geriausia derinti įvairius metodus ir juos lanksčiai naudoti.
