Skenuojančio elektroninio mikroskopo sandara ir veikimo principas
Iš elektronų pistoleto katodo, išleidžiamo 20 (m ~ 30 (m) elektronų pluošto skersmens, katodo ir anodo tarp greitinančios įtampos vaidmens, šovė į veidrodžio vamzdį, per kondensatoriaus veidrodį ir konvergencijos efekto objektyvas, susiaurėjęs iki maždaug kelių milimetrų elektroninio zondo. Veikiant skenuojančiajai ritei ant objektyvo viršutinės dalies, elektronų zondas atlieka grotelių nuskaitymą mėginio paviršiuje ir sužadina. įvairūs elektroniniai signalai yra aptinkami atitinkamu detektoriumi, sustiprinami, konvertuojami ir paverčiami įtampos signalu, kuris vėliau siunčiamas į vaizdo vamzdžio vartus ir moduliuoja elektroninio pluošto ryškumą vamzdelis fluorescenciniame ekrane taip pat skirtas rastriniam nuskaitymui, o šis skenavimo judesys ir elektronų pluošto skenavimo judesio mėginio paviršius yra griežtai sinchronizuojami, kad įdėklo laipsnis ir gauto signalo stiprumas atitiktų nuskaitymo elektronų vaizdą, šis vaizdas atspindėtų paviršiaus topografinių ypatybių pavyzdžiai. ** Pjūvio skenuojamosios elektroninės mikroskopijos biologinio mėginio paruošimo būdai Daugumoje biologinių mėginių yra vandens ir jie yra gana minkšti, todėl prieš atliekant skenuojamosios elektroninės mikroskopijos stebėjimą, mėginys turi būti atitinkamai apdorotas. Skenuojamosios elektroninės mikroskopijos mėginio paruošimo pagrindinis svarbus tikslumas: kiek įmanoma, kad mėginio paviršiaus struktūra būtų gerai išsaugota, nėra deformacijų ir užteršimo, mėginys yra sausas ir turi gerą elektros laidumą.
Skenuojančio elektroninio mikroskopo charakteristikos
(i) Jis gali tiesiogiai stebėti mėginio paviršiaus struktūrą, o mėginio dydis gali būti net 120 mm × 80 mm × 50 mm.
ii) Mėginio paruošimo procesas yra paprastas ir nereikia pjaustyti plonais griežinėliais.
(iii) Mėginys gali būti išverstas ir pasuktas trimis erdvės laipsniais mėginio kameroje, kad mėginį būtų galima stebėti įvairiais kampais.
(D) Lauko gylis yra didelis, o vaizdas yra turtingas trimatis. Skenuojančio elektroninio mikroskopo lauko gylis yra šimtus kartų didesnis nei optinio mikroskopo ir dešimtis kartų didesnis nei perdavimo elektroninio mikroskopo.
(E) plataus didinimo diapazono vaizdas, skiriamoji geba taip pat yra gana didelė. Galima padidinti nuo keliolikos iki šimtų tūkstančių kartų, tai iš esmės apima nuo didinamojo stiklo, optinio mikroskopo iki perdavimo elektroninio mikroskopo didinimo diapazono. Skiriamoji geba tarp optinio mikroskopo ir perdavimo elektronų mikroskopo, iki 3 nm.
vi) mėginio pažeidimo ir užteršimo elektronų pluoštu laipsnis yra mažas.
(vii) Stebint morfologiją, kiti mėginio skleidžiami signalai gali būti naudojami mikrozono sudėties analizei.
