Perjungiamojo maitinimo šaltinio impulsų grupės slopinimas
Perjungimo maitinimo šaltinis gali būti naudojamas vien kaip elektroninis įrenginys, tačiau dažniau perjungimo maitinimo šaltinis naudojamas kaip komponentas su kiekvienu elektroniniu įrenginiu. Todėl perjungimo maitinimo šaltinis turi savo ypatumus, o perjungiamojo maitinimo šaltinio elektromagnetinis suderinamumas yra susijęs su įprastu kiekvieno elektroninio prietaiso naudojimu. Dėl šios priežasties elektroninio įrenginio EMS našumas pirmiausia priklauso nuo perjungiamojo maitinimo šaltinio EMS veikimo.
① Perjungiamojo maitinimo šaltinio impulsų grupės slopinimas.
Kalbant apie perjungimo maitinimo šaltinį, neatsižvelgiant į perjungimo maitinimo šaltinio įvesties filtrą, jungiklis
Pačios maitinimo grandinės slopinimo poveikis sprogimo trukdžiams yra tikrai labai mažas. Pagrindinė priežastis yra ta, kad pliūpsnio trukdžių esmė yra aukšto dažnio bendrojo režimo trukdžiai, o filtrų kondensatoriai perjungimo maitinimo grandinėje yra nustatyti taip, kad slopintų žemo dažnio diferencialinio režimo trikdžius. Elektrolitinių kondensatorių nepakanka, kad būtų slopinamas paties perjungimo maitinimo šaltinio pulsavimas, jau nekalbant apie impulsų pliūpsnius, trukdančius harmoniniams komponentams, viršijantiems 60 MHz. Todėl osciloskopu stebint impulsų pliūpsnio bangų formas perjungimo maitinimo šaltinio įėjime ir išėjime, akivaizdaus efekto nėra.
Atsižvelgiant į tai, kad serijos trukdžiai yra bendrojo režimo trukdžiai.
Kalbant apie perjungiamą maitinimo šaltinį, įvesties filtro pritaikymas yra pirmoji svarbi priemonė, skirta slopinti impulsų grupės trikdžius, patiriamus perjungiant maitinimo šaltinį.
Antra, aukšto dažnio transformatoriaus perjungimo maitinimo linijoje projektavimas, ypač ekranavimo priemonių taikymas, turi tam tikrą slopinamąjį poveikį impulsų grupės trikdžiams.
Be to, tiltinis kondensatorius tarp pirminės ir antrinės perjungiamojo maitinimo šaltinio grandinės gali sudaryti kelią bendrojo režimo trukdžiams, kurie patenka į antrinę grandinę iš pirminės grandinės ir grįžta į pirminę grandinę, o tai yra teisinga.
Jis taip pat turi tam tikrą slopinamąjį poveikį pulso grupės trikdžiams.
Galiausiai, bendrojo režimo filtro grandinės (bendro režimo droselio ir bendrojo režimo kondensatoriaus) pridėjimas prie perjungimo maitinimo šaltinio išėjimo taip pat gali atlikti tam tikrą vaidmenį slopinant sprogimo trukdžius.
Be to, pati perjungimo maitinimo grandinė neturi slopinančio poveikio perjungimo trukdžiams, tačiau jei perjungiamojo maitinimo šaltinio grandinės išdėstymas nėra geras, tai apsunkins perjungimo trukdžių įsiskverbimą į perjungimo maitinimo šaltinį. Visų pirma, sprogimo trukdžių esmė yra laidumo ir spinduliuotės trukdžių derinys. Net jei laidumo trukdžių komponentas yra slopinamas dėl įvesties filtro, spinduliuotės trukdžiai aplink perdavimo liniją vis tiek egzistuoja ir vis tiek įmanoma sukelti spinduliuotės komponentą sprogimo trukdžiuose per perjungiamojo maitinimo šaltinio išdėstymą ( perjungiamojo maitinimo šaltinio pirminės arba antrinės grandinės išdėstymas yra per atviras, sudarydamas „didelės kilpos anteną“), todėl turi įtakos visos įrangos atsparumui trukdžiams.
(2) Apie perjungiamojo maitinimo šaltinio impulsų pliūpsnio slopinimą, į ką reikėtų atkreipti dėmesį atliekant įrangos maitinimo impulsų sprogimo bandymą.
Kai atliekamas impulsų grupės anti-interferencinis bandymas elektroninės įrangos maitinimo pusėje, mes tikrai
Reikėtų atkreipti dėmesį į įrangos maitinimo šaltinio atsparumą trukdžiams, tačiau nereikėtų pamiršti, kad sprogimo trukdžių esmė yra laidumo ir spinduliuotės trukdžių derinys. Todėl kai ėmusis atitinkamų priemonių maitinimo dalis vis tiek neišlaiko šio testo, turėtume atsidurti kito vietoje ir pagalvoti, ar trikdžiai nepateks į įrangą kitomis priemonėmis, sukeldami klaidingą vaizdą, kad maitinimo linijos plyšimo atsparumas įrangos testas yra nekvalifikuotas.
Pavyzdžiui, kai atliekame elektros linijos impulsų grupės atsparumo testą, iš tikrųjų esame elektros srovėje
Erdvėje aplink šaltinio liniją yra tam tikro intensyvumo skleidžiamas aukšto dažnio elektromagnetinis laukas. Jei įranga turi kitas ryšio ir įvesties/išvesties jungtis, be maitinimo linijos, vis tiek galima priimti aukšto dažnio elektromagnetinio lauko indukciją per šių linijų pasyviosios antenos funkciją ir įvesti ją į įrangą. Be to, kai vidinis įrangos laidas yra per arti korpuso; Įranga turi nemetalinį korpusą; Arba korpuso elektromagnetinis sandarumas šalia laidų nėra geras, taip pat galima sukelti aukšto dažnio spinduliuotės elektromagnetinį lauką, kurį sukuria impulsų grupės trikdžiai, dėl ko atliekamas nekvalifikuotas įrangos atsparumo bandymas.
