Mikroskopų veikimas ir trikčių šalinimas
1. Išmatuokite projektoriaus mikroskopo padidinimą ir stebėkite, kaip prisitaikyti prie skirtingų reikalavimų
Matavimo projektoriaus mikroskopas naudojamas trimačiai elektroninių komponentų, integrinių grandinių plokščių, rotacinių pjovimo įrankių, magnetų ir kt Ją galima išspręsti keliais aspektais. a. Tai galima pasiekti naudojant optinį našumą. b. Jį galima pasirinkti vaizdo stebėjimui. c. Tai galima pasiekti naudojant mechanines savybes. d. Jis gali būti apšviestas šviesos šaltiniu
Optinis veikimas: atsižvelgiant į matuojamo objekto stebėjimo reikalavimus, parenkami skirtingi okuliarai / objektai, kad būtų išspręstos tokios problemos kaip didelis padidinimas ir didelis matymo laukas. Kai reikalingas tik didelis padidinimas, jį galima pasiekti pakeitus didelio padidinimo okuliarą ir objektyvą. Kai reikalingas didelis matymo laukas, tai galima pasiekti pakeitus objektyvo lęšį, sumažinus okuliarą arba pakeitus didelio matymo lauko okuliarą.
Vaizdo stebėjimas: kai optinio padidinimo nepakanka, kaip kompensaciją galima naudoti elektroninį padidinimą. Stebėdami ir norėdami vienu metu saugoti ir saugoti, galime rinktis vaizdo įrašus. Yra įvairių vaizdo formatų: A. Galima tiesiogiai pasiekti per monitorių B. Galima prijungti prie kompiuterio (per skaitmeninę CCD arba analoginę CCD vaizdo gavimo kortelę) C. Galima prijungti prie skaitmeninės kameros (skirtingos skaitmeninės kameros turi atsižvelgti į skirtingas sąsajas ir suderinamumą su mikroskopu)
Mechaninis veikimas: susidūrę su suvirinimu, surinkimu, didelių integrinių grandynų plokščių tikrinimu ir darbo atstumo reikalavimais, galime juos išspręsti pasitelkdami mechanines charakteristikas, pvz., universalius laikiklius, svirties laikiklius, dideles mobilias platformas ir kt. Dėl jų eksploatacinių savybių aptikimo darbus galime tiesiogiai užbaigti naudodami laikiklius ir platformas aptikdami didelius objektus. Nereikia perkelti mūsų išbandyto objekto. Pavyzdžiui, įmonei A buvo sunku perkelti grandyninę plokštę dėl jos didelio dydžio ir būtinybės stebėti nedidelį pakreipimą. Todėl apžiūros darbai galėjo būti atliekami tik mechaniniu judesiu, o naudojant universalius laikiklius būtų galima vienu metu atitikti šiuos naudojimo reikalavimus.
Šviesos šaltinio apšvietimas: šviesos šaltinio apšvietimas turi lemiamą reikšmę nustatant, ar matuojamas objektas gali būti aiškiai matomas. Renkantis apšvietimą, reikia pasirinkti atitinkamą apšvietimo įrankį ir apšvietimo būdą, atsižvelgiant į paties matuojamo objekto charakteristikas (atsižvelgiant į jo reikalavimus šviesai, pvz., stiprus/silpnas/atspindintis ir pan.). Jei projektoriaus mikroskopo perdavimas negali patenkinti jūsų apšvietimo poreikių esant įstrižai apšvietimui, taip pat paruošėme jums LED šaltos šviesos šaltinio šviestuvus, apskritus žibintus, vieno/dviejų pluoštų šalto šviesos šaltinio šviestuvus ir kt.
