Padidinimas{0}}Stebėjimas stereomikroskopu

Nov 29, 2025

Palik žinutę

Padidinimas{0}}Stebėjimas stereomikroskopu

 

Stereomikroskopas naudojamas trimačiai elektroninių komponentų, integrinių grandinių plokščių, rotacinių pjovimo įrankių, magnetų ir kt Ją galima išspręsti keliais aspektais. a. Tai galima pasiekti naudojant optinį našumą. b. Jį galima pasirinkti vaizdo stebėjimui. c. Tai galima pasiekti naudojant mechanines savybes. d. Jis gali būti apšviestas šviesos šaltiniu
Optinis veikimas: atsižvelgiant į matuojamo objekto stebėjimo reikalavimus, parenkami skirtingi okuliarai / objektai, kad būtų išspręstos tokios problemos kaip didelis padidinimas ir didelis matymo laukas. Kai reikalingas tik didelis padidinimas, didelio padidinimo okuliarą ir objektyvo lęšį galima pakeisti. Kai reikalingas didelis matymo laukas, objektyvo lęšį galima pakeisti, kad okuliaro lęšis atitiktų reikalavimus.

 

Vaizdo stebėjimas: kai optinio padidinimo nepakanka, kaip kompensaciją galima naudoti elektroninį padidinimą. Stebėdami ir norėdami vienu metu saugoti ir saugoti, galime rinktis vaizdo įrašus. Yra įvairių vaizdo formatų: A. Galima tiesiogiai pasiekti per monitorių B. Galima prijungti prie kompiuterio (per skaitmeninę CCD arba analoginę CCD vaizdo gavimo kortelę) C. Galima prijungti prie skaitmeninės kameros (skirtingos skaitmeninės kameros turi atsižvelgti į skirtingas sąsajas ir suderinamumą su mikroskopu)

 

Mechaninis veikimas: susidūrę su suvirinimu, surinkimu, didelių integrinių grandynų plokščių tikrinimu ir darbo atstumo reikalavimais, galime juos išspręsti pasitelkdami mechanines charakteristikas, pvz., universalius laikiklius, svirties laikiklius, dideles mobilias platformas ir kt. Dėl jų eksploatacinių savybių aptikimo darbus galime tiesiogiai užbaigti naudodami laikiklius ir platformas aptikdami didelius objektus. Nereikia perkelti mūsų išbandyto objekto. Pavyzdžiui, dėl didelio išbandytos plokštės dydžio ir poreikio stebėti nedidelį posvyrį, ABB sunku perkelti plokštę, o bandymo darbus galima atlikti tik mechaniniu judesiu. Universalaus laikiklio funkcija vienu metu gali atitikti šiuos naudojimo reikalavimus.

 

Šviesos šaltinio apšvietimas: šviesos šaltinio apšvietimas turi lemiamą reikšmę nustatant, ar matuojamas objektas gali būti aiškiai matomas. Renkantis apšvietimą, reikia pasirinkti atitinkamą apšvietimo įrankį ir apšvietimo būdą, atsižvelgiant į paties matuojamo objekto charakteristikas (atsižvelgiant į jo reikalavimus šviesai, pvz., stiprus/silpnas/atspindintis ir pan.).

 

2 Electronic Microscope

Siųsti užklausą