Įvadas į elektroninių mikroskopų privalumus ir trūkumus
1. Didelė skiriamoji geba, optinio mikroskopo skiriamoji geba yra 0,2 μm, o perdavimo elektronų mikroskopo skiriamoji geba yra 0,2 nm, tai reiškia, kad perdavimo elektroninis mikroskopas optinio mikroskopo pagrindu padidina 1000 kartų.
2. Perdavimo elektronų mikroskopija dažniausiai naudojama smulkioms medžiagų struktūroms, kurių neįmanoma atskirti įprastais mikroskopais, stebėti; Skenuojanti elektroninė mikroskopija daugiausia naudojama kietų paviršių morfologijai stebėti, taip pat gali būti derinama su rentgeno spindulių difrakcija arba elektronų spektroskopija, kad būtų suformuoti elektronų mikrozondai medžiagų sudėties analizei; Emisijos elektronų mikroskopija naudojama savarankiškai spinduliuojantiems elektronų paviršiams tirti.
Trūkumai:
1. Elektroniniame mikroskope mėginiai turi būti stebimi vakuume, todėl gyvų mėginių stebėti negalima. Tobulėjant technologijoms, aplinkos skenavimo elektronų mikroskopija palaipsniui leis tiesiogiai stebėti gyvus mėginius;
2. Apdorojant pavyzdžius, gali susidaryti struktūros, kurių iš pradžių pavyzdyje nebuvo, o tai apsunkina vaizdo analizę ateityje;
3. Dėl savo stipraus elektronų sklaidos gebėjimo jis yra linkęs į antrinę difrakciją ir kitus reiškinius;
4. Dėl to, kad tai yra dvimatis trimačio objekto projekcijos vaizdas, kartais vaizdas nėra unikalus;
5. Dėl to, kad transmisijos elektronų mikroskopu galima stebėti tik labai plonus mėginius, gali būti, kad medžiagos paviršiaus struktūra skiriasi nuo struktūros medžiagos viduje;
6. Itin ploni mėginiai (mažesni nei 100 nanometrų), mėginio paruošimo procesas yra sudėtingas ir sunkus, o ruošiant mėginį yra pažeidimų;
7. Elektronų pluoštai gali sugadinti mėginius susidūrę ir kaitindami;
8. Be to, elektroninių mikroskopų pirkimo ir priežiūros kainos yra gana didelės.
