Vertikalaus ir apversto metalografinio mikroskopo taikymo skirtumai
Skirtumas tarp vertikalaus ir apversto yra tas, kad vertikalus mėginys dedamas žemiau, o apverstas – aukščiau. Vertikalus objektyvas nukreiptas žemyn, o apverstas į viršų.
Apverstas metalografinis mikroskopas, dėl to, kad bandinio stebėjimo paviršius sutampa su darbastalio paviršiumi, o stebėjimo objektyvas yra žemiau darbastalio, kad būtų galima stebėti aukštyn, šios stebėjimo formos neriboja mėginio aukštis. Ruošiant mėginį, tik vienas stebėjimo paviršius yra lygus, todėl jis dažniausiai naudojamas gamyklų laboratorijose, mokslinių tyrimų įstaigose, universitetuose mokymui. Apversto metalografinio mikroskopo pagrindas turi didelį atraminį plotą, žemą svorio centrą, yra stabilus ir patikimas. Okuliaras ir atraminis paviršius pakreipti 45 laipsnių kampu, todėl stebėjimas yra patogus.
Vertikalus metalografinis mikroskopas turi tas pačias pagrindines funkcijas kaip ir apverstas metalografinis mikroskopas. Jis ne tik analizuoja ir identifikuoja metalo pavyzdžius, kurių aukštis yra 20-30mm, bet ir plačiau naudojamas skaidriose, pusiau skaidriose arba nepermatomose medžiagose, nes atitinka kasdienius žmogaus įpročius. Vertikalus metalografinis mikroskopas stebėjimo metu sukuria teigiamą vaizdą, o tai labai palengvina naudotojo stebėjimą ir diskriminaciją. Be 20-30 mm aukščio metalo mėginių analizės ir identifikavimo, stebimi didesni nei 3 mikronų, bet mažesni nei 20 mikronų taikiniai, pvz., paviršiaus struktūra ir medžiagų, tokių kaip kermetai, elektroniniai lustai, spausdintinės grandinės, pėdsakai, LCD substratai, plonos plėvelės, pluoštai, granuliuoti objektai, dangos ir kt. gali turėti gerą vaizdo efektą.
