Infraraudonųjų spindulių mikroskopo taikymas mikro įrenginiuose elektronikos pramonėje
Taikymo kryptis: infraraudonųjų spindulių mikroskopo funkcija matuojant mikro puslaidininkinių įtaisų temperatūrą.
Antra, fonas:
Tobulėjant nanotechnologijoms, jos miniatiūrizavimas iš viršaus į apačią vis plačiau taikomas puslaidininkių technologijų srityje. IC technologiją anksčiau vadinome „mikroelektronikos“ technologija, nes tranzistorių dydis yra mikronų (10-6 metrų) lygyje. Tačiau puslaidininkių technologija vystosi labai sparčiai ir kas dvejus metus pažengs viena karta, o jos dydis sumažės iki pusės pradinio dydžio. Tai garsusis Moore'o įstatymas. Maždaug prieš 15 metų puslaidininkiai pradėjo įžengti į submikronų, tai yra, mažesnių nei mikronų, erą, o tada buvo gilių submikronų ir daug mažesnių nei mikronų era. Iki 2001 tranzistoriaus dydis buvo net mažesnis nei 0,1 mikrono, tai yra, mažesnis nei 100 nanometrų. Todėl tai nanoelektronikos era, o didžioji dalis būsimų IC bus pagaminta iš nanotechnologijų.
Trečia, techniniai reikalavimai:
Šiuo metu pagrindinė elektroninių prietaisų gedimo forma yra terminis gedimas. Remiantis statistika, 55 procentus elektroninių įrenginių gedimų sukelia nurodytą vertę viršijanti temperatūra. Kylant temperatūrai, elektroninių prietaisų gedimų dažnis didėja eksponentiškai. Paprastai tariant, elektroninių komponentų veikimo patikimumas yra itin jautrus temperatūrai, o patikimumas sumažės 5 procentais kas 1 laipsnį įrenginio temperatūros padidėjimo 70-80 laipsnių lygiu. Todėl būtina greitai ir patikimai nustatyti prietaiso temperatūrą. Vis mažėjant puslaidininkinių įtaisų dydžiui, aptikimo įrangos temperatūros raiškai ir erdvinei raiškai keliami aukštesni reikalavimai.
Ketvirta, nufotografuokite šilumos žemėlapį vietoje (vieta: gerai žinomo mokslinių tyrimų instituto modelis: INNOMETE SI330)
