Atominės jėgos mikroskopijos ir skenuojančios elektroninės mikroskopijos privalumų ir trūkumų lyginamoji analizė
Atominės jėgos mikroskopija yra skenuojančio zondo mikroskopas, sukurtas remiantis pagrindiniu skenuojančios tunelinės mikroskopijos principu. Atominės jėgos mikroskopija gali ištirti daugybę mėginių ir pateikti duomenis paviršiaus tyrimams ir gamybos kontrolei ar proceso vystymui, kurių negali pateikti įprasti skenuojantys paviršiaus šiurkštumo prietaisai ir elektroniniai mikroskopai. Taigi, kokie yra jų privalumai ir trūkumai? Pažvelkime į šiuos dalykus:
1. Privalumai:
Atominės jėgos mikroskopija turi daug pranašumų, palyginti su skenuojančia elektronine mikroskopija. Skirtingai nuo elektroninių mikroskopų, kurie gali pateikti tik dvimačius vaizdus, atominės jėgos mikroskopai pateikia tikrus trimačius paviršiaus žemėlapius. Tuo pačiu metu AFM nereikalauja jokio specialaus mėginio apdorojimo, pvz., padengimo variu arba anglimi, nes tai gali negrįžtamai sugadinti mėginį. Trečia, elektroniniai mikroskopai turi veikti didelio vakuumo sąlygomis, o atominės jėgos mikroskopai gali gerai veikti esant normaliam slėgiui ir net skystoje aplinkoje. Tai gali būti naudojama tiriant biologines makromolekules ir net gyvus biologinius audinius.
2. Trūkumai:
Palyginti su skenuojančiu elektroniniu mikroskopu (SEM), atominės jėgos mikroskopo trūkumas yra tas, kad vaizdo diapazonas yra per mažas, greitis yra per mažas ir jį per daug veikia zondas. Atominės jėgos mikroskopija yra naujo tipo instrumentas, turintis didelę atominio lygio skiriamąją gebą, išrastas po skenuojančios tunelinės mikroskopijos. Jis gali ištirti įvairių medžiagų ir mėginių fizines savybes nanometrų srityse, įskaitant morfologiją, atmosferos ir skysčio aplinkoje arba tiesiogiai atlikti nanoskalės matavimus. Manipuliavimas; jis buvo plačiai naudojamas puslaidininkių, nanofunkcinių medžiagų, biologijos, chemijos pramonės, maisto, medicinos tyrimų ir įvairių su nano disciplinų tyrimų eksperimentuose mokslinių tyrimų institutuose, tapo pagrindine nanomokslo tyrimų priemone. . Palyginti su skenuojančia tuneline mikroskopija, atominės jėgos mikroskopija yra labiau pritaikoma, nes ji gali stebėti nelaidžius mėginius. Skenavimo jėgos mikroskopas, plačiai naudojamas moksliniuose tyrimuose ir pramonėje, yra pagrįstas atominės jėgos mikroskopu.
